X射线探测器-测厚电离室（测厚仪用）
特点：用于X、γ射线测厚仪信号采集，特有收集电极结构，收集效率高，工作电压范围宽，保护环绝缘子引出，本底低至0.1pA。
1、低能射线测厚电离室
适用于能量为3~15keV的X射线进行透射式或者荧光法测厚，主要有DL376P系列、DL375T系列。
部分量产型号参数：
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型号 |
尺寸（管壳外径*高度） | 窗直径 | 推荐工作电压 | 最高工作温度 |
测量范围 |
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DL376P |
ф76*105 | ф20-铍 | -700VDC |
80℃ |
可测量能量大于0.2Mev β射线，能量大于3KeV的X射线 |
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DL375T |
ф75*50 | ф48-钛 | -700VDC |
60℃ |
可测量能量大于0.1Mev β射线，能量大于8KeV的X射线 |
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DL375TE |
ф75*105 | ф60-钛 | -700VDC |
60℃ |
2、中能射线测厚电离室
适用于X射线能量大于15keV以上的射线进行透射式测厚，主要有DL3105系列、DL376系列、DL389系列。
部分量产型号参数：
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型号 |
尺寸（管壳外径*高度） | 窗直径 | 推荐工作电压 | 最高工作温度 | 灵敏度（Co-60）,A/Gy/h |
测量范围 |
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DL3105 |
ф105*115 | ф95 | -700VDC | ≥60℃ |
8E-7 |
可测量能量大于0.6Mev β射线，能量大于30KeV的X射线 |
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DL3105B |
ф105*69 | ф95 | -700VDC | ≥60℃ |
2.9E-7 |
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DL376-2 |
ф76*105 | ф70 | -700VDC | ≥60℃ |
1.35E-7 |
可测量能量大于0.3Mev β射线，能量大于15KeV的X射线 |
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DL376-6 |
ф76*105 | ф70 | -700VDC | ≥60℃ |
0.57E-7 |
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DL389 |
ф89*76 | ф83 | -700VDC | ≥60℃ |
1E-7 |